红外中波制冷冷反射分析评价指标I/Ibar，请问这个值在软件中哪里可以查到?

damioo7

这个I/Ibar值是近轴边缘光线在某面入射角度与近轴主光线与某面的入射角度之比，在软件目前我只能查到YNI值，求助的这个还找不到。望大神们指教一番！

damioo7

这个我自己已经搞定了。在冷反射分析中设置好冷屏表面和扫描仪表面，就可以查找到我要的这个值。

烧饼

damioo7 发表于 2016-10-18 08:12
这个我自己已经搞定了。在冷反射分析中设置好冷屏表面和扫描仪表面，就可以查找到我要的这个值。

有什么特殊作用吗。制冷红外的没接触过

damioo7

烧饼 发表于 2016-10-18 09:10
有什么特殊作用吗。制冷红外的没接触过

制冷探测器需要内部液氮制冷到较低温度，红外你也知道，主要还是接收温度相关信息，探测器内部和外部环境温度相差太大，会产生冷反射现象，影响成像效果，这样是不允许的，而我标题询问的这个指标就是进行初步评价冷反射的重要指标。

烧饼

damioo7 发表于 2016-10-18 12:00
制冷探测器需要内部液氮制冷到较低温度，红外你也知道，主要还是接收温度相关信息，探测器内部和外部环境 ...

嗯嗯，谢谢解答。非制冷主要是这个冷光阑匹配比较复杂吧。

damioo7

烧饼 发表于 2016-10-18 12:34
嗯嗯，谢谢解答。非制冷主要是这个冷光阑匹配比较复杂吧。

非制冷就是避免这种情况，探测器本身温度没有那么低，而制冷的内部问题较低。这是两种原理做成的探测器，所以对于结构形式上来说还是有较大的不同，评价的指标上也有所差别。你说的这个冷光栏是制冷探测系统上要考虑的指标，这个冷反射现象很难消除，定焦还好，变焦的会很痛苦。

烧饼

damioo7 发表于 2016-10-18 12:39
非制冷就是避免这种情况，探测器本身温度没有那么低，而制冷的内部问题较低。这是两种原理做成的探测器， ...

嗯，我所理解的冷光阑。就是光阑后置，预留足够的后焦，实在是没做过，详细要求不了解

damioo7

是光栏后置到出瞳位置处，在探测器内部有个光栏，足够的后焦还是看探测器内部结构了，一般后焦得30mm以上了

damioo7

烧饼 发表于 2016-10-18 12:40
嗯，我所理解的冷光阑。就是光阑后置，预留足够的后焦，实在是没做过，详细要求不了解

是的，探测器内部有个光栏，所以需要系统光栏位置放到后面，整个后焦至少得30mm吧

烧饼

damioo7 发表于 2016-10-18 12:45
是的，探测器内部有个光栏，所以需要系统光栏位置放到后面，整个后焦至少得30mm吧

嗯嗯，方便的话开个非制冷红外的帖子，简单的讲下吧