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[交流] 如何评估自由曲面的可加工性?

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  • TA的每日心情
    开心
    2025-3-5 09:38
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    [LV.4]偶尔看看III

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    小白

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    发表于 2025-3-5 09:50 | 显示全部楼层 |阅读模式
      社区的前辈们,大家好!我设计了一个光学系统,其中有两个反射镜采用了自由曲面的面型,通过Zernike多项式进行的表征,两面镜子最高分别用到了第7项和第28项。之前一直停留在理论设计层面,现在想对这两个反射镜的可加工性进行大概评估。我对此完全没有概念。
      是否有了解的前辈给我指点指点,或者大家可否知道有哪些方式了解加工水平,以及一般对镜子的可加工性评估是需要考虑哪些方面,除了阶数,是不是还要面型测粗糙度什么的这种,关于加工我真的是了解的太少了。非常感谢大家提供的宝贵意见。
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  • TA的每日心情
    擦汗
    2025-4-15 08:59
  • 签到天数: 219 天

    [LV.7]常住居民III

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    小白

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    发表于 2025-3-5 10:15 | 显示全部楼层
    面型粗糙度是你给镜头厂提的要求,自由曲面的可加工性主要是看面型变化矢高分布

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    武六柒zzz + 2 很给力!

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  • TA的每日心情

    2025-3-30 11:54
  • 签到天数: 10 天

    [LV.3]偶尔看看II

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    小白

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    发表于 2025-3-25 14:49 | 显示全部楼层
    楼主是做的HUD模型吗
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  • TA的每日心情
    开心
    2025-3-31 14:44
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    [LV.7]常住居民III

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    小白

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    发表于 2025-4-2 10:26 | 显示全部楼层
    以下是參考chatGPT,個人認為分析的還不錯
    除了加工可行性評估,後續的檢驗&公差需求也是需要考量的


    1. 表面形貌分析
    Zernike 多項式的最高階數影響
    第一面(7 項)應該較為平滑,加工難度相對較低。
    第二面(28 項)具有更高頻的形變,可能需要更高精度的加工設備。

    透過 Zernike 項目影響分析
    低階項(例如球差、彗差)通常可透過傳統光學拋光方式加工。
    高階項(特別是28項)可能代表更細微的局部形變,對於加工設備的要求較高,甚至可能影響測試與校准。

    2. 加工方法評估
    傳統光學拋光(磨削 + 抛光)適合較低階的自由曲面(例如 7 項)。無法精確控制高階項,可能會削弱高頻結構。
    數控加工(CNC / Diamond Turning)適合非球面,但對於高階自由曲面(特別是28項)可能會產生加工紋理。
    離子束拋光(IBF, Ion Beam Figuring)可以精修高頻結構,適合精確控制高階自由曲面形狀。
    磁流變拋光(MRF, Magnetorheological Finishing)適合修正低至中階 Zernike 結構,可能需要與 IBF 結合使用。

    3. 表面粗糙度與形狀精度
    形狀精度:
    低頻形狀誤差需控制在 λ/10 ~ λ/20 以確保光學效能。
    高階 Zernike 項目可能導致局部形變,影響波前誤差。

    表面粗糙度:
    若反射鏡應用於高能雷射或極紫外光(EUV),表面粗糙度應低於 0.5nm RMS。
    傳統拋光難以達到此要求,需要超精密加工(如 IBF 或 MRF)。

    4. 测量与检测
    干涉测量(适用于低阶形貌)
    CGH(计算全息片)或 Shack-Hartmann 传感器(适用于复杂自由曲面)
    AFM(原子力显微镜)或白光干涉仪(用于纳米级粗糙度测量)

    5. 成本与可行性
    第一面镜子(7项):采用 CNC 加工 + 传统抛光 或 MRF 修正即可满足需求,成本较低。
    第二面镜子(28项):需要高精度数控加工 + 精密抛光(MRF/IBF),成本高昂。
    若表面曲率变化剧烈,还需评估是否能进行有效测量与校准。

    結論
    第一面鏡子(7項)較易加工,可透過 CNC+拋光完成。
    第二面鏡子(28項)加工難度高,可能需要 IBF 或 MRF 修正。
    建議與光學加工廠討論是否能達到設計規格,並考慮製造公差對光學性能的影響。
    若加工成本過高,可考慮簡化 Zernike 表達式,降低高階項數量,以提高可製造性。
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