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想做一个透镜系统使得在某个面上的光斑符合设定的大小,而且光强尽可能均匀。
在非序列优化时,采用了NSDD来获取光强的方差,并且优化使方差尽量小;但是却没找到限制光斑大小的好方法。我想到一个办法是,因为前面系统的透过率基本上不随优化参数改变,所以无论光斑多大,在Detector面上的总功率基本是一定的,这样想控制光斑大小,只要把NSDD里面的每个pixel的平均功率当作Operand就好了。
但这方法不行。无论我是设定每个pixel的平均功率作为一个Target, 还是用OPLT, OPGT两个一起限制其在一个小范围内波动,并且无论我如何调整权重,最后这个限制条件一定会被违反。我想可能是Zemax里面优化时,限制条件被违反只是给Merit Function增加一个惩罚而已,所以即使违反了,只要MF一直在变小,优化就会继续。
所以就想问,可以在优化里加入严格的, 不可以被违反的限制条件吗? 在非序列模式里,有没有可以直接利用的,描述几何光斑大小的Operand呢(我知道NSDD里有RMS半径)?
我是新手,很可能很多常用的简单功能都还不熟悉。望大家包含。十分感谢。
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