怎样设计带有偏振态可以变化的光路

YY_10032

string_XD 发表于 2022-9-14 14:11
是的，就是椭偏仪

您做过这样的类似光路设计吗？可否详细的讲解下

单点测量椭偏仪的话，上面说的很明白了。需要注意的就是，样品就把设置基底，在基底上设置膜层作为测量对象，膜层需要自己在膜层文件里写膜层材料和厚度。然后光束追迹的话要开偏振和光束分裂。
椭偏仪的话，我记得是记录相位差和振幅比，相位差的话就是起偏器和检偏器的角度差，也就是琼斯矩阵设置的角度差，振幅比应该就是探测器能量比的开方，或者你积分算下振幅比和能量比的关系。
方法就是这样，但是zemax是基于几何光学的软件，椭圆偏振光经过膜层相位有没有变化，我也没研究过。我见过椭偏仪的论文都是套公式算的。

string_XD

YY_10032 发表于 2022-9-14 16:26
单点测量椭偏仪的话，上面说的很明白了。需要注意的就是，样品就把设置基底，在基底上设置膜层作为测量对 ...

谢谢   我再研究研究