怎样设计带有偏振态可以变化的光路

string_XD

有没有前辈做过这样的光学设计仿真？请问可以用ZEMAX设计吗？或者可否用其他的仿真软件进行设计？

Oeback

可以的吧。
非序列下
1. 光源采用高斯光源。通常激光器输出光为线偏振光，所有光源里面相位设置为固定的相位，不要选择随机相位。
2. 起偏器和检偏器等，采用琼斯矩阵了设置。相关参数参考手册
3. 显微物镜如果有现有模型最好，没有就直接采用近轴透镜模拟也可以。
4. 待测样品不知道是什么？你测试的是什么特性？这里需要配置相应的膜层属性或散射模型。
5.探测器采用相关探测接收，具体配置查看参考手册。
。。。。
PS 个人觉得主要难度在于待测样片的散射模型或反射模型如何建立，这是比较关键的。

哈哈117

LT软件是可以的，光学属性编辑如下：

string_XD

Oeback 发表于 2022-9-14 09:24
可以的吧。
非序列下
1. 光源采用高斯光源。通常激光器输出光为线偏振光，所有光源里面相位设置为固定的 ...

待测量其实是测薄膜的厚度，通过反射光的偏振态及相位变化来体现膜厚，不知道用您说的软件可以实现不？

Oeback

string_XD 发表于 2022-9-14 09:37
待测量其实是测薄膜的厚度，通过反射光的偏振态及相位变化来体现膜厚，不知道用您说的软件可以实现不？

你可以试一试=。
待测样品模型可以用两个表面来表征膜层，分别定义对应的反射模型，两个表面之间的厚度差会引入相位变化。其实最终实现在两个表面上的反射光干涉，后续显微镜放大成像观察干涉图样，你的意思或基本原理是这样吧。

string_XD

Oeback 发表于 2022-9-14 10:06
你可以试一试=。
待测样品模型可以用两个表面来表征膜层，分别定义对应的反射模型，两个表面之间的厚度 ...

1.差不多是这个样子   后面也不一定观察干涉图样，比如说探测器换成其他类的光谱仪器，你觉得这个可以实现吗？2.因反射光的偏振态发生变化，在最后采集信号时，这个软件可以得到偏振态变化后的信号的吗？

Oeback

string_XD 发表于 2022-9-14 11:13
1.差不多是这个样子   后面也不一定观察干涉图样，比如说探测器换成其他类的光谱仪器，你觉得这个可以实 ...

你这一说我就不确定了。。。
1. 首先我不知道你是基于什么原理来测量膜厚的。（测量膜厚有很多种方式原理）
2. 基于您选择的原理，你能否搭建出相应的样品模型出现，这应该是主要的。
3. 不管你用什么探测器或光谱仪器，最终的接收仪器（光电池，光电二极管，COMS,CCD）应该基本都是探测光强信号的。光谱仪也只是由分光器件+光强探测器组成的而已。
。。。。

YY_10032

椭偏仪吗，zemax非序列倒是可以构建这样的光路，光源设置偏振态，起偏器和检偏器用琼斯矩阵，样品采用基材镀膜的形式，探测器能收到光斑形态和能量值，就是不知道有没有干涉图案这种涉及物理光学的东西。

string_XD

Oeback 发表于 2022-9-14 11:44
你这一说我就不确定了。。。
1. 首先我不知道你是基于什么原理来测量膜厚的。（测量膜厚有很多种方式原 ...

我先试试哈，

string_XD

YY_10032 发表于 2022-9-14 13:20
椭偏仪吗，zemax非序列倒是可以构建这样的光路，光源设置偏振态，起偏器和检偏器用琼斯矩阵，样品采用基材 ...

是的，就是椭偏仪

您做过这样的类似光路设计吗？可否详细的讲解下