干涉仪测量面型相关问题提问

呵呵也抢啊

干涉仪测量镜头面型时，为什么对大F数镜头需要调成直条纹，而对于小F数镜头需要调成零场?另外为什么对干涉条纹数量也有要求？最近开始学习光学测试，接触到了干涉仪的检测，遇到了这些问题，在这里请教以下大家。

OpticalFighter

这个问题值得讨论下。我理解大F数镜头焦深比较大，对离焦相对不敏感，保留直条纹比较容易采集完整的波面数据。而小F数镜头对离焦很敏感，所以要调到零场保证测试准确性，不知道理解得对不对。

呵呵也抢啊

OpticalFighter 发表于 2023-4-29 01:10
这个问题值得讨论下。我理解大F数镜头焦深比较大，对离焦相对不敏感，保留直条纹比较容易采集完整的波面数 ...

谢谢，等假期过后我会和老师讨论一下，到时候过来分享。

NNNG

我接触到的场景一般都需要把条纹数量尽量调少，来保证对一个周期条纹内相位的采样密度。期待分享。

Arnold

镜头一般选占ccd面积80%左右吧，然后反算f 数，调直和调零场，基本就是消除检测时造成像散 彗差 球差，常规检测需要将彗差像散 球差尽量调小，条纹尽量少吧，一般两三个明暗相间的条纹，数量少根据相移算法再拟合zernike 看面型特征，一般有的为了过检可以条纹变细对比度变低结合ccd的光积分成像可使整体数值变好

呵呵也抢啊

OpticalFighter 发表于 2023-4-29 01:10
这个问题值得讨论下。我理解大F数镜头焦深比较大，对离焦相对不敏感，保留直条纹比较容易采集完整的波面数 ...

有你说的原因，特别是直条纹这块，另外就是条纹数量多的话，彗差和球差也会增大，会影响检测结果，彗差球差为什么变大我也不知道。一般测量都是将条纹调至数量尽可能少的状态，就像有兄弟说都调至零场。还有就是环状条纹，这种会存在两种状态，在移相过程中会出现收缩或者扩散，收缩状态下移相条纹数会减少，而扩散状态下移相条纹数会增加，一般选择收缩状态用来检测。不知道描述的准不准确，有错的地方还请指正。