Applied Optics 第59卷，第十三期-成像系统-红外成像仪中缺陷像素簇的高性能隐藏

Zeus

Applied Optics Vol. 59, Issue 13, pp. 4081-4090 (2020) https://doi.org/10.1364/AO.391668

红外成像仪中缺陷像素簇的高性能隐藏

Yaohong Chen, Jin U. Kang, Gaopeng Zhang, Jianzhong Cao,Qingsheng Xie, and Chiman Kwan

摘要：缺陷像素隐藏是红外图像处理中的必要步骤，并且已被广泛使用。然而，目前的方法主要集中在孤立像素的隐藏和小缺陷像素簇。因此，对于缺陷像素簇较大的红外探测器，这些方法不能满足要求。本文提出了一种新的、综合的方法来处理从红外成像仪中获取的带有大大小小的缺陷像素簇的图像数据。该方法包括预处理、粗隐藏、高动态范围增强和精细隐藏。在中波红外和长波红外图像上进行的实验表明，该方法比传统的最佳方法——变换图像补全算法取得了更好的效果，峰值信噪比提高了2.7063dB(16.3%)，结构相似度指标提高了0.1951dB(34.1%)。

文章网址：https://www.osapublishing.org/ao/abstract.cfm?uri=ao-59-13-4081