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Applied Optics 第59卷,第十二期 用于表面处理和损伤研究的软x射线激光光束线

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    发表于 2020-5-5 09:37 | 显示全部楼层 |阅读模式
    本帖最后由 前途无量 于 2020-5-5 09:41 编辑

    应用光学第59卷,第十二期,第3692-3698页(2020) https://doi.org/10.1364/AO.387792
         用于表面处理和损伤研究的软x射线激光光束线

    摘要
    我们开发了一种软x射线激光(SXRL)光束线,配备了专门用于表面处理和损伤形成等烧蚀研究的强度监视器。SXRL光束的波长为13.9nm,脉宽为7ps,脉冲能量约为200 nJ。用Mo/Si多层包覆球面镜将SXRL光束聚焦到样品表面。为了获得正确的辐照能量/剂量,在光束线上安装了一个由Mo/Si多层分束器和x射线电荷耦合器件相机组成的强度监测器。Mo/Si多层分束器对45°入射角的反射率有很大的偏振依赖性。然而,通过适当地评估反射率和光束透过率之间的关系,可以从光强监测器获得的能量中得到照射到样品表面的能量。这种SXRL光束线不仅适用于烧蚀现象,也适用于软x射线光学和电阻的性能评价。

    软X线(soft X-ray):波长在0.74~0.046nm(0.74~0.46埃米)、光子能量为17~26keV的低能量X线。由软x线机产生,产生该波段X线的管电压为25~40kVp。由于软X线的穿透能力小,临床上适用于软组织摄影。
    原文:
    https://www.osapublishing.org/ao/abstract.cfm?uri=ao-59-12-3619


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